ÀÚµ¿Â÷°¡ ºñ·Ï ºÎǰµé¿¡ ÀÇÇØ ¿òÁ÷ÀÌ´õ¶óµµ ºÎǰµéÀ» µ¿ÀÛ½ÃŰ°í µ¿ÀÛÀ» Á¶ÀýÇÏ´Â °ÍÀº ÄÄÇ»ÅÍ(ECU)°¡ ¸¸µå´Â ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î(µ¥ÀÌÅÍ)¿¡ ÀÇÇØ °áÁ¤µË´Ï´Ù. ±×·¯¹Ç·Î "Çϵå¿þ¾î¿Í ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î°¡ ¿Ïº®ÇÑ Á¶È¸¦ Àß ÀÌ·ê¶§¸¸ÀÌ ÃÖ»óÀÇ ¼º´É"À» ¸¸µé¾î ³À´Ï´Ù.
±×·±µ¥ ºÎǰµéÀº ¹®Á¦°¡ ÀÖÀ¸¸é ±Ù¹æ ¹ß°ßÀÌ °¡´ÉÇÏÁö¸¸ µ¥ÀÌÅÍ¿¡ ¹®Á¦°¡ »ý±â¸é ¹ß°ßÀÌ °ÅÀÇ ºÒ°¡´É ÇÕ´Ï´Ù. ¿Ö³Ä¸é µ¥ÀÌÅÍ´Â ¾ÆÁÖ ¹Ì¼¼ÇÑ Àü±â½ÅÈ£(mV)¸¦ ÀÌ¿ëÇϴµ¥ ¾Ç¼¿ÆÐ´Þ¹â±â. ¿Âµµ. ½Àµµ. ´ë±â¾Ð. »ê¼Ò³óµµ.¹Ù¶÷¼Óµµ. ³Ã°¢¼ö¿Âµµ µîµî¿¡ µû¶ó Å©±â°¡ ´Ù¾çÇϹǷΠÁö±ÝÀÇ ºÎǰ±³Ã¼ Á¤ºñ¹æ¹ýÀ¸·Î "ÃÑüÀûÀÎ Áø´ÜÀÌ ºÒ°¡´É"ÇÕ´Ï´Ù. ±×·¡¼ Á÷¿µ¼¾ÅͰ¡ ¾Æ´Ï¶ó °øÀå¿¡°¡µµ ¿îÀüȯ°æ¿¡ µû¶ó ¼ö½Ã·Î º¯ÇÏ´Â µ¥ÀÌÅ͸¦ ºÐ¼®Çϱâ´Â ºÒ°¡´É ÇÕ´Ï´Ù.
ÀÏ·Ê·Î ¿øÀڷ¹ßÀü¼Ò´Â ¿øÀڷ³ë½ÉÀ» ÅëÁ¦ÇÏ´Â º°µµÀÇ ¼öÆÛÄÄÇ»ÅͰ¡ Àִµ¥ ¼¼°è ÃÖ°íÀÇ Ã·´Ü ÄÄÇ»ÅÍ¿¡¼µµ Á¦¾îºÒ´É Çö»óÀÌ »ý°Ü ±¸ ½î·Ã ü¸£³ëºô¿øÀü»ç°í°¡ »ý°å°í ±Ù°£¿¡ ÀϺ»¿¡¼µµ ¿øÀü»ç°í°¡ »ý±ä °ÍÀÔ´Ï´Ù. Á¦¾îºÒ´ÉÀ̶õ ¿ÜºÎ¿¡¼ ¾î¶°ÇÑ Á¶°ÇÀ» ºÎ¿©ÇÏ¿©µµ ÅëÁ¦°¡ ºÒ°¡´ÉÇÔÀ» ¶æÇϹǷΠ±Þ¹ßÁø»ç°í¸¦ °¡Áö°í ¿Ð°¡¿ÐºÎÇÏ´Â °ÍÀº ³Í¼¾¼¿¡ ºÒ°¡ÇÏ´Ù°í ÁÖÀåÀÔ´Ï´Ù. ¸¸ÀÏ¿¡ °¡´ÉÇÏ´Ù¸é ¿Ö Áö±Ý±îÁö ÇѰǵµ ÇØ°áÀ» ¸øÇÏÁö¿ä ?
* ±Þ¹ßÁøÀº ECU°¡ ¾Æ³¯·Î±×½ÅÈ£¸¦ µðÁöÅнÅÈ£·Î ¾çÀÚÈ(quantization) ÇÏ´Â °úÁ¤. ECUÀÇ ºÎǰ¿È(component deterioration)¿Í ³»ºÎÀúÇ×Áõ°¡(increasing internal resistance) ±×¸®°í Åë½Å¼±·ÎÀÇ Àü±âÀû¿Ü¶õ(electrical disturbance)µîÀ¸·Î ÀÎÇÏ¿© ECUÀÇ ¿îÀü¸ðµå¸¦ ´ã´çÇÏ´Â IC°¡ ÀüÀÚÀûÀ¸·Î ¶ô(Lock)ÀÌ °É¸®¸é ¿£ÁøÀ» ÅëÁ¦ÇÏ´Â ÃÖ´ëÀÇ ÆÞ½º°¡ Ãâ·ÂµÇ¾î rpmÀÌ ±ØÄ¡¿¡ ´ÞÇØ¹ö¸®±â ¶§¹®ÀÔ´Ï´Ù. ´Ù¸¸ Áö±ÝÀÇ ECU´Â ÄÄÇ»ÅÍÀÇ CPU¿¡ ÇØ´çÇÏÁö¸¸ Dµå¶óÀÌºê °°ÀÌ ÀúÀå±â´ÉÀÌ ÇÊ¿ä¾ø±â ¶§¹®¿¡ Àü¿øÀÌ ²÷¾îÁö¸é ¿îÀü¸ðµå(ÄÄÇ»ÅÍÀÇ À©µµ¿ì¿¡ ÇØ´ç) ¿Ü ¸ðµç µ¥ÀÌÅÍ´Â ¼Ò¸êµÇ¾î ¹ö¸®¹Ç·Î ¿øÀÎ ¹ß°ßÀÌ ºÒ°¡´ÉÇÕ´Ï´Ù. ±×¸®°í ±Þ¹ßÁø½Ã´Â ºê·¹ÀÌÅ©¸¦ ¹â¾Æµµ µ¿ÀÛÀÌ ¾ÈµÈ´Ù°í º¸¾Æ¾ß ÇÕ´Ï´Ù.
´õÅ« ¹®Á¦´Â Á¤ºÎ°¡ ±Þ¹ßÁøÀ» °ø½ÄÀûÀ¸·Î ÀÎÁöÇÏ¿© ¹ýÀûÁ¦µµ¸¦ ¸¸µé°í ±×·¡¼ ¸ÞÀÌÄ¿°¡ ÀÚ¹ßÀûÀ¸·Î ÀÚ±¸Ã¥À» ¸¸µéÁö ¾Ê´ÂÇÑ ÇØ°áÃ¥Àº ¿ä¿øÇÏÁö¿ä. ±×·¡¼ ¿¹¹æ±â¼úÀº °³¹ßµÇ¾î ÀÖÁö¸¸ Áö±ÝÀÇ Ç³Åä¿¡¼´Â È®ÀÎ ÇÒ ¼ö ¾øÀ¸¹Ç·Î °ø¿¬ºÒ¿¡ ºÒ°¡ÇÏÁö¿ä.
¾ðÁ¨°¡ ±Þ¹ßÁø ¿¹¹æ±â¼úÀ» Á¤ºÎ¿¡ Á¦¾ÈÇß´õ´Ï ±âÁØÀÌ ¾ø¾î Æò°¡(½É»ç)°¡ ºÒ°¡´É ÇÏ´Ù°í ÇÏ´õ±º¿ä. ±×·¡¼ ±Þ¹ßÁø ¹®Á¦¿¡ ´ëÇÏ¿©´Â ´«À¸·Î º¸°í ±Í·Î µé¾îµµ ÀÔÀº ´Ý°í ÀÖÁö¿ä. <Á¦°ø=VAD> |